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| | 光电测量产品 >> 自动变焦技术光学测量仪器 >> 三维表面自动测量系统-在线粗糙度、形貌、位置测量IF-SensorR25型 |
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产品说明：
在生产中传感器可以进行三维光学测量；在生产线上自动测量粗糙度，形貌和定位；可以自动测量复杂外貌；测量表面加工质量，最小的形貌公差和闭环制造；自动变焦技术应用于平面的三维表面测量。
特点：
1． 系统: 在生产中传感器可以进行三维光学测量
IF-SensorR25是一套稳定的三维光学测量设备，它可以在生产中实现形貌和粗糙度的自动测量。传感器可以直接整合在生产线上，传输高分辨率，可重复和可溯源的测量结果。该测量设备融合了一台平面测量设备和坐标测量设备的技术和功能。只用一套设备用户就可以实现自动粗糙度，形貌和位置测量。即使是大的表面面积，也可以快速进行可溯源和高度可重复，而且高分辨率的测量。
2. 功能: 在生产线上自动测量粗糙度，形貌和定位
我们可以根据实际要求将IF-SensorR25安装到生产线上。标准的衔接平台(QDAS)使得此类的融合变得快速和简便。由此用户可以将实验室和生产线的测量结果进行对比。超高垂直扫描范围使得测量不同零部件几何结构成为可能。通过快速和高分辨率的表面测量可以检验测量精度，形貌公差和误差。用户同时还受益于设备的高使用寿命和可重复性。通过定义参照值和标准可以高效地将流程优化的方案付诸于实践。
3. 应用范围: 测量表面加工质量，最小的形貌差别和闭环制造
IF-SensorR25可以应用于生产中微结构几何特征的光学测量。该设备可以应用的范围很广泛，从精密微小零部件到涡轮叶片的表面测量。不同型号的零部件，形貌和材料都可以被测量。IF-SensorR25可以作为量产中的质量控制测量设备。它也可以测量多种材料，包括复合材料。应用的范围从刀具制造行业到汽车行业，注塑行业和各种形式的精密制造。在电火花设备上， 我们的传感器可以直接与Makino工具制造设备连接。 因此我们可以直接在制造设备上进行三维测量，从而将加工效率提高4倍。
4. 技术: 自动变焦三维表面测量
自动变焦是一项稳定光学的技术， 它通过收集高达500 百万测量点达到形貌和表面粗糙度的测量。该技术可以测量大的面积和体积。 每个捕捉到的测量值都会自动计算其可重复性。因此用户可以获得每个测量值的高准确性，从而提高测量质量和说服性。 Fokus-Variation已经获得EN ISO Standard 25178标准中关于表面测量特性的认证。
基本规格
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Travel range Z |
26 mm (motorized) |
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Illumination |
LED ring light with 24 segments |
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Weight |
4 kg |
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Dimensions |
126 mm x 153 mm x 202 mm (WxDxH) |
物镜
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10x |
20x |
|
50x |
2xSX |
5xSX |
10x SX |
20x SX |
50x SX |
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Sampling distance |
µm |
1 |
0.5 |
|
0.2 |
5 |
2 |
1 |
0.5 |
0.2 |
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Min. repeatability (vertical) |
nm |
40 |
20 |
|
10 |
1240 |
180 |
45 |
25 |
15 |
|
Max. scan height (approx.) |
mm |
16 |
12 |
|
9 |
25 |
25 |
25 |
19 |
12 |
|
Best vertical resolution |
nm |
100 |
50 |
|
20 |
3500 |
510 |
130 |
70 |
45 |
|
Working distance |
mm |
17.5 |
13 |
|
10.1 |
34 |
34 |
33.5 |
20 |
13 |
|
Measurement field X x Y |
mm |
2x2 |
1x1 |
|
0.4 X 0.4 |
10x10 |
4x4 |
2x2 |
1x1 |
0.4 X 0.4 |
分辨率和应用范围
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|
10x |
20x |
50x |
2x SX |
5x SX |
10x SX |
20x SX |
50x SX |
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Min. measurable radius |
µm |
5 |
3 |
2 |
20 |
10 |
5 |
3 |
2 |
|
Min. measurable wedge angle |
° |
20 |
20 |
20 |
20 |
20 |
20 |
20 |
20 |
|
Min. measurable roughness (Ra) |
nm |
300 |
150 |
80 |
- |
- |
450 |
250 |
150 |
|
Min. measurable roughness (Sa) |
nm |
150 |
75 |
50 |
- |
- |
250 |
100 |
80 |
|
Max. measurable slope angle |
° |
up to 87 |
软件
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Measurement modules |
Standard: 3D data capturing; Automation; Remoting; Aiiconainspect (3D inspection software including GD& T) |
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Optional: Profile form, profile roughness (Ra, Rq, Rz...), surface texture (Sa, Sq, Sz...), volume, 2D; automatic multi-measurement; fusion; form/contour/difference; various application specific measurement modules; Edge Measurement Package (edge radius/form/contour; edge break measurement; chipping/roughness; difference measurement; flash measurement); Alicona lnspectProfessional (macros for GD& T) |
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Automation |
Integrated 3D Script Editor, Labview Framework and Remoting |
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Import/Export |
Standard: 3D data sets (e.g. AL3D, STL, G3D, IGES, STP); common image formats (e.g. BMP, JPG, PNG); simple export of results (CSV, 2D, 3D, QDAS export) and reporting functionalities |
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Optional: AliconalnspectProfessional (CATIA, UG, Pro/E) |
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Languages |
German, English, French, Japanese, Chinese |
测量对象
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Surface texture |
Surface topography Ra above 9 nm with Lc 2 μm,
dependent on surface structure |
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Sample preparation |
none |
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| 点击数：2032 录入时间：2015/8/6 【打印此页】 【返回】 |
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