SpectrumTEQ-EL系列电致发光量子效率测量系统，可以针对发光器件的光电特性进行有效测量，系统搭配的QEpro光谱仪为业内公认旗舰系列，具有信噪比、低杂散光等特性，可确保测量结果得准确性；同时，系统配有强大的测试软件，对话框式的软件操作界面让测量过程变得更为简单。
测量参数
· 量子效率
· 亮度
· 量子效率随电流密度的曲线
· 色坐标
· 辐射通量，光通量
· 峰值波长
应用领域
· 无机电致发光
· 有机电致发光
· 分子薄膜EL器件
产品优势
· 体积小巧：便于灵活使用及运输。
· 原位测量：可放至手套箱内，实现原位测量
· 流程化操作：设备无需频繁校准。
产品参数
系统配置
配置方案
方案1
方案2
光谱仪
型号
QEPro / QE65Pro（可选）
光谱范围(nm)
350-1100
信噪比
1000:01:00
分辨率
2.5 nm (FWHM)
动态范围
85000:1（QEPro单次采集）；25000:1（QE65Pro单次采集）
AD位数
18-bit（QEPro）；16-bit（QE65Pro）
积分球
尺寸
3.3”
1.5”
材质
Spectralon
源表
Keithley2400
光纤
芯径
1000um（可更换其他芯径）
校准灯
角度
2 Pi
HL-3-INT-CAL
亮度
50 流明
功率
5W（电功率）
无线遥控
通道数
4
无遥控
软件
SpectrumTEQ-EL专用软件
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